扫描电子显微镜
2015-12-22 13:50:29

Ø型号:电镜-JSM-6380LV(日本电子)/能谱-GENESIS 2000(美国EDAX)

Ø技术指标:分辨率:3.0nm(高真空),4.0nm(低真空);加速电压:0.5kV~30kV;放大倍数:5~30万倍;X射线能谱能量分辨率:132eV;成分分析范围:B~U。

Ø主要功能:适用于分析观察各种材料表面形貌,断口分析,金相组织分布等;结合X射线能谱仪,可对材料成分进行定性或半定量分析,对样品进行成分面扫描、线扫描,获得元素的分布图。

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